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Leiterplatten für Halbleitertests und Anlagenschnittstellen

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Anlagensteuerungen, Evaluierungsplatinen, Testschnittstellen und Gehäusesubstrate sind unterschiedliche Produkte. Ein gewöhnlicher Leiterplattenprozess ist nicht automatisch für Package-Substrate geeignet.

Technische Prüfpunkte

  • Schnittstelle: Gehäuse-, Sockel- und Kontaktgeometrie, Ausrichtung, Oberfläche und Planarität bereitstellen.
  • Verbindungen: Lagen, Microvias, Registrierung und Pad-Geometrie gemeinsam prüfen.
  • Elektrik: Impedanz, Verlust, Strom und Isolation mit Messverfahren definieren.
  • Qualifikation: Dicke, Ebenheit, Temperatur und Kontaktzyklen angeben; Package-Substrate benötigen separate Montage- und Verzugsanforderungen.

Projektunterlagen vorbereiten

Fertigungsdaten, Aufbau, Schnittstellen und Abnahme senden. Stückliste, Bestückung, Prüfmittel und Rückverfolgbarkeit ergänzen. Anlagenplatine, Testplatine oder Package-Substrat unterscheiden; Mengen und Zeitplan nennen.

Technische Prüfung anfragen

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